在高速發展的科技時代，集成電路（芯片）的應用無處不在，芯片質量是品牌信譽和用戶安全的守護神。也是關乎公司生死存亡的大事，一款精良的芯片可能會為公司帶來巨額利潤，而一款有質量隱患的芯片也可能會讓公司傾家蕩產。如何提升產品質量成為眾多芯片公司的頭等大事，可靠性測試作為提升產品質量的重要手段，被越來越多的芯片公司重視起來，掌握先進的可靠性測試技術，不僅是提升產品競爭力的關鍵，更是每位質量工程師職業生涯中的必修課。上海頂策科技精心打造的《芯片可靠性測試深度解析課程》，將為您揭開可靠性測試的神秘面紗，帶您系統學習、并實操兩大主要可靠性測試技術：高溫工作壽命測試（HTOL）與高加速溫濕度應力測試（HAST）。

【課程內容】

本次課程從可靠性測試基礎開始，詳細介紹常見可靠性測試項目的內容及測試方法，以HTOL和HAST兩個實施難度較大的可靠性測試為主，深度解析可靠性測試標準，測試方法，具體方案設計及實施細節，測試案例分享，測試技巧、經驗總結等等，系統、詳細的講解可靠性測試技術。主要內容如下：

報名者請聯系：劉婷 電話（微信）：13166339996

【參加培訓人員建議】

1、芯片設計公司質量部門工程師，測試工程師，應用工程師以及設計工程師。

2、芯片封測廠質量部門相關工程師。

3、FAB廠質量部門相關工程師。

4、電子產品廠商或汽車廠商質量部門相關工程師。

5、有志于從事芯片測試的應屆畢業生。

◆ 培訓時間：2024年4月26-28日（周五-周日連續3天）

◆ 地點：上海浦東新區海基六路218弄8號樓1-2樓